Flo-Tel XD (DET-FLO-TEL-EXD)

Flo-Tel XD (DET-FLO-TEL-EXD)

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Flo-Tel XD, Fail Safe burst detection

非侵襲的、フェイルセーフの破裂検出

Flo-Tel XDは、市場で最初のExd承認済み非侵襲的、フェイルセーフの検出システムです。このシステムは、破壊ディスクが困難な動作条件内で機能している時を識別する際に、優れたソリューションを提供します。統合型のFlo-Tel XDは業界基準のケーブルグランドに適しているM20タッピングと共に、Exdジャンクション ボックスを含んでいます。ゾーン0、1および2で使用するのに適しています。

カスタマーは、ボックス内で1.5から4 mm[1}2{1]までの横断面を持つ一連の端末タイプを要求できます。これらはほとんどの業界基準のケーブルに適しています。

いったんこの検出システムをインストールすると、それ以上の電気的メンテナンスを必要としません。破壊後に、ディスクだけが交換される必要のあるエレメントであり、そのため高価な再配線にかかるコストを排除できます。フェールセーフ チェックは、Elfab独自のTest-Telユニットを使用する、非電気的に訓練された組立て工により恐らく安全に実行されるでしょう。

システム動作

簡単なリードスイッチおよび磁石テクノロジーにより作動するFlo-Tel XDは、破壊ディスク検出ニーズのために現実的なソリューションを提供するように設計されています。センサーは破壊ディスク上に磁石でホルダーに装着されます。破壊ディスクが破裂すると、破壊ディスクでその磁石アークがセンサーから離れ、開路信号を出します。破壊後は、ディスクのみが交換を必要とするただ1つのエレメントになります。

  • ATEXおよびIECEx認証

II 2 G Ex d IIC 120°C Gb -40°C ≤ Ta ≤ 100°C IP67
II 1 D Ex ta IIIC T120°C Da -40°C ≤ Ta ≤ 100°C IP67
II 1 G Ex ia IIC 120°C Ga -40°C ≤ Ta ≤ 100°C IP67
II 1 D Ex ia IIIC T120°C Da -40°C ≤ Ta ≤ 100°C IP67

  • センサーはこのプロセスに接することはなく、従って、潜在的なリークパスが生じる可能性はありません。
  • 従って、非侵襲性設計は、下流の圧力変動あるいは腐食に影響されません。
  • IP 66 そして IP 67定格
  • 内蔵のサーミスターが、プロセスの温度に関するデータを提供します。

 

最大プロセス温度300°C。
最小プロセス温度-40°C。

*特許申請中

 

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